IR推出堅固耐用的IR25750通用電流檢測IC，配有極纖巧的SOT23-5L封裝，為大電流應用提升整體系統效率并且大幅節省空間。
測量通過功率MOSFET或IGBT的大電流 (10到100A) 往往需要大的電阻器，因此會產生過量的功率損耗 (10到30W)。IR25750可在開關導通時從功率MOSFET的內部導通電阻或IGBT的VCE(on) 提取電壓，無需大型外部電流檢測電阻器和散熱片，還能避免過量的功率損耗。
IR25750的柵極驅動輸入為IC提供VCC電源電壓，并把導通電阻或VCE(on) 檢測電路和MOSFET或IGBT的開關時間進行同步。新器件采用IR的專利高壓技術，具有在開關關斷時阻斷高VDS或VCE電壓所需的600V阻斷能力。其它主要功能包括低柵極輸入電容、導通時的內部濾波延遲 (一般為200納秒) 以及GATE和CS引腳上的內部20.8V齊納箝位 (Zener clamp)。
IR亞太區銷售副總裁潘大偉表示：“IR25750電流檢測IC是新的模塊組合，通過功率MOSFET的導通電阻或IGBT的VCE(on) 測量電流，無需大型外部電流檢測電阻器。這些功能可大幅提升通用開關型電力電子產品、電機控制和工業設備等大電流應用的效率，并大幅節省空間。”
IR25750在所有輸入和輸出上均具有集成式防靜電能力和卓越的閂鎖免疫力，實現無堅不摧的單芯片保護。該器件符合工業級標準和第一級潮濕敏感度 (MSL1) 標準。
規格
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器件編號
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封裝
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Vs
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Vgate
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IR25750LPBF
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SOT23-5L
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600V
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20V
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產品現正接受批量訂單。新器件不含鉛，并符合電子產品有害物質管制規定 (RoHS)。
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