IC 的故障分析需要快速、正確的響應，因為當然，幫助客戶是我們的主要關注點。但我們是否應該期望質量保證 (QA) 部門在故障分析 (FA) 期間測試所有條件下的每個參數？一點都不。其中太多是猜測。這可能會讓一些人感到驚訝，但 QA 人員沒有水晶球，也不會讀心術。只有當客戶提供有關 IC 故障的準確技術信息時，才能及時有效地進行 IC 故障排除。
摘要：在對復雜設備進行故障排除時，知識至關重要。我們希望并且需要了解與該問題相關的所有信息，包括正確的 IC 修訂號、在哪里可以找到相關參考資料，以及誰真正知道客戶現場發生了什么。IC 的故障分析需要快速、正確的響應，因為當然，幫助客戶是我們的主要關注點。但我們是否應該期望質量保證 (QA) 部門在故障分析 (FA) 期間測試所有條件下的每個參數？一點都不。其中太多是猜測。這可能會讓一些人感到驚訝，但 QA 人員沒有水晶球，也不會讀心術。只有當客戶提供有關 IC 故障的準確技術信息時，才能及時有效地進行 IC 故障排除。
IC 的故障分析——可能會浪費時間
我們經常聽到“感知就是現實”。當 IC 出現故障，或者客戶認為它出現故障時，我們必須通過故障分析 (FA) 進行響應。為了有效地做到這一點，我們必須獲得有關該事件的準確、相關的信息。這是避免猜測的方法。
讓我講一個不久前發生的事件。有一部分因失敗而被退回，除此之外我們一無所知。我們在自動測試設備 (ATE) 上運行它，并對零件進行臺架測試、X 射線檢查和開蓋。我們在電子顯微鏡下用軟電子淹沒它，以尋找表明損壞的發射位點。我們使用液晶涂層測量了它的溫度。這部分很完美。我們沒有找到失敗的原因，所以 QA 部門在 FA 中準確地說了這一點。我們想知道，為什么零件會被視為失敗而退回？
大約兩個月后，我們幾乎偶然了解到，客戶僅在零件加熱到 +60°C 以上時才會出現此故障。我們又開始了FA。我們在室溫 (+25°C) 下測試了該部件，結果……什么也沒發現。該部件不再起作用，因為它在測試過程中被損壞。歸根結底，這是性的回歸活動；它沒有再發生。但在這一集中我們學到了一些更重要的東西：如果沒有關鍵的性能（即故障）數據，我們就會盲目猜測。我們白白浪費了相當多的時間和金錢。（有關古董車、接地問題和另一個失敗的 IC 的另一個更個人的故事，請參閱附錄 —《Homefront》中的 IC 故障分析。）
QA 中的詳盡練習徒勞無功
很多時候，失效的 IC 損壞嚴重，以至于無法確定損壞的根源。一位客戶將組裝承包商的一塊電路板帶回了他們的實驗室設施。他們在那里將 IC 從板上拆下，并聲稱 IC 出現故障。很可能。客戶得出結論：“根本原因”在于 IC 本身。他們想要 FA，但是故障數據在哪里？當時的情況是否被仔細記錄？什么可以防止未來的失敗？我們又回到了猜測，而不是事實核查——這幾乎不是有意義的 FA 的處方。
在這種情況下，客戶將注意力集中在多輸出設備的三個引腳上。這是我們所知道的：該零件使晶圓廠的運行確定性為數十億分之一；它在電路中運行了幾個小時才失效。是嬰兒故障還是外部處理損壞？它是否在客戶的電路中？在應用環境中？工廠的靜電放電 (ESD) 是否會削弱電路，導致后來出現故障？也許是運輸人員忽視了 ESD 協議造成的損壞？可能的因素似乎無窮無盡。
從客戶那里收到的個部分原理圖并沒有多大幫助。它既不顯示是什么驅動了故障部件，也不顯示該部件需要驅動什么。當地 FAE 被要求檢查地面。地面是否正確分開？從示意圖中你無法看出。我們收到了更多原理圖，但現在的問題多于答案。為什么客戶只檢查了眾多輸出中的三個？設備的任何輸入或輸出引腳是否以低阻抗連接到電路板引腳？電源和接地是否算作低阻抗連接？電路板引腳上的 ESD 可能是問題所在嗎？我們還在猜測。
有效的故障分析——對犯罪現場進行故障排除
現在我們問，“從一開始就使用正確的信息可以完成什么？” 期望 QA 在所有條件下詳盡地測試每個參數是否合理，特別是當我們對故障一無所知時？不可以。我們只能幫助客戶了解 IC 發生故障的原因，并且只能在充分了解應用的情況下進行糾正。
誠然，這種做法與那些認為 FA 應該立即執行的人相沖突。我聽說“FA 永遠是要做的件事。在查看 IC 的應用電路之前，應該先查看 IC 的內部部件。” 我不明白這個想法的起源，我也不同意。FA并不是首要任務。相反，調查“犯罪現場”，即失敗事件，是步。
故障位置的信息至關重要，就像警方調查人員一樣，我們應該竭盡全力保存現場數據。首先要調查IC的應用電路，即哪里出現故障。像焊料飛濺這樣的簡單問題可能就是答案的關鍵。IC 可能部分運行，但并未完全失效。事實上，移除 IC 可能會掩蓋真正的問題。
對于一個有效的FA，我們需要檢查客戶的原理圖并收集失敗的所有情況和原因。是的，這個程序很可能會遇到客戶的保密問題。這是一個普遍的擔憂，這就是為什么有保密協議 (NDAs)。這也是 FAE 充當世界各地工廠的眼睛和耳朵的情況。FAE 可以進入客戶的設施并評估原理圖、布局和應用的其他條件。為了保護客戶機密，FAE 只需向 QA 發送客戶設計原理圖的相關部分。現在，質量檢查終將使用可靠的故障數據。
成功的結果
回到我們的故事。當地 FAE 就該故障問題與客戶進行了更密切的合作。有了更多原理圖，以下是我們所看到的。運算放大器連接到輸出引腳，但由于有 10kΩ 串聯電阻，因此影響不大。通過使用一個公共接地，而不是在一個星形點連接單獨的接地，一個電源上的噪聲將通過去耦電容器直接耦合到其他電源。的去耦電容為 0.1μF。典型的表面貼裝 0.1μF 電容器在大約 15MHz 時自諧振；高于該頻率，它們是電感器，不再充當電容器。
這有兩個教訓。首先，去耦電容器是雙向的。如果將一個有噪聲的電源耦合到一個安靜的電源，噪聲就會污染該安靜的電源。其次，噪聲接地也會發生同樣的情況：噪聲會污染安靜的電源。嘈雜的電源需要與嘈雜的地面配對，干凈或安靜的電源必須與干凈的電源配對。交叉污染會損害電源和接地。高于電容器的自諧振頻率，它會變成電感性的，也就是說，它不會傳導或衰減高頻能量。
結論
因此，我們繞了一圈，重復開場白：在排除 IC 故障時，知識才是王道。從調查一開始，沒有人比與客戶并肩檢查問題的當地 FAE 更有價值。FAE 必須仔細檢查整個系統、電路板布局、原理圖和應用，然后將數據傳回 QA。只有準確、詳細的事件數據才能解決 IC 故障問題。如果沒有這些數據，質量檢查就被迫猜測“犯罪現場”。 |
