在功率電子領域,一場技術變革正在發生:在越來越多的應用中,GaN和SiC等第三代寬禁帶半導體器件正在逐步替代傳統的硅(Si)基器件,扮演越來越重要的角色。在需要較高電壓和功率的電動車、白色家電、通信基礎設施、可再生能源、數據中心等領域,SiC更是表現出強勁的實力。
SiC器件的性能優勢
從下圖可以看出,與Si材料相比,SiC有兩個突出優勢:一是SiC的高禁帶寬度(是Si的3倍)帶來了更高的擊穿電壓、溫度和功率等級;二是SiC具有更高的熱導率,有利于功率器件熱性能的提升,以支持更高電流密度的應用。

圖1:SiC與Si材料特性比較
(圖源:Qorvo)
基于這樣的性能優勢,用SiC打造的開關器件(如MOSFET)與硅基器件相比,自然也是具有諸多優勢:
• SiC擊穿電壓更高,這意味著可以更輕薄的器件來支持更高的電壓。
• SiC器件具有較小的裸片尺寸和較低的寄生電容,以及更低的導通電阻,這可以帶來更低的開關損耗,提供更高的效率。
• 在給定的電壓和電阻等級,SiC功率器件能夠在更高的開關頻率下運行,因此允許采用體積更小的外圍無源元件,從而減小整個系統的尺寸及成本。
• 得益于出色的熱性能,SiC器件能夠在更高的環境溫度下正常工作,有助于簡化散熱系統設計。
簡而言之,SiC功率器件具有高電壓阻斷能力、低導通損耗、低開關損耗和高導熱性,因此可以為功率電子應用提供更高的效率、更出色的散熱性能,以及更高的功率密度,幫助用戶突破硅基器件的性能天花板。
也正因為此,眾多功率電子行業的“玩家”都在積極探索采用SiC技術替代硅基工藝,開發一系列功率器件,如BJT、JFET、MOSFET和IGBT等。不過,SiC商用器件的開發畢竟是一個全新的課題,想要實現從Si到SiC技術的絲滑升級,還需要做大量的功課。
實現這一技術迭代的關鍵著力點主要有兩個方面:一個是降低成本,包括SiC器件自身的成本,以及應用開發中的配套成本(如柵極驅動器);另一個方面,就是要根據目標應用,充分發揮出SiC的優勢特性,開發出差異化的產品,為開發者提供更大的選擇空間。
通往SiC技術的新路徑
目前,在向SiC技術邁進的過程中,SiC MOSFET是很多廠商的“必選項”,這是因為與Si MOSFET相比,其具有耐壓高、導通電阻低、開關頻率高等突出優勢,且應用范圍非常廣泛。
不過,如上文所述,SiC MOSFET并不是“從Si向SiC絲滑升級”的唯一選項,Qorvo就選擇了從SiC JFET入手,探索出一條與眾不同的新路徑。
眾所周知,JFET是一種常開型晶體管,是利用柵極PN結耗盡層實現開關控制,同時正常狀態下單極性導電,與MOSFET相比,此類器件具有良好的高頻特性,且由于不需要柵氧層,其可靠性更優,導通電阻也會更小。
但是開發SiC JFET時面臨著一個挑戰:相較于SiC MOSFET,常開型的SiC JFET在器件阻斷時需要施加較大的負向偏置,以使得溝道區域完全夾斷,因此無法與現有功率器件(如MOSFET、IGBT等)的驅動電路兼容,這無疑會增加SiC JFET器件應用開發的難度。
為此,Qorvo采用了一種巧妙的方法——基于獨特的“共源共柵結構”電路配置,將一個常開型SiC JFET器件與一個硅基MOSFET垂直級聯、共同封裝,形成一個集成的常關型SiC FET器件,使得器件的驅動可以與硅基MOSFET / IGBT器件兼容,很好的解決了這一SiC技術升級中的關鍵問題。

圖2:Qorvo SiC FET器件結構框圖
(圖源:Qorvo)
從圖3中,我們可以進一步了解Qorvo SiC FET與SiC MOSFET相比的差異化優勢。
首先,Qorvo的SiC JFET中沒有SiC MOSFET的柵極氧化層,進而消除了溝道電阻,讓裸片尺寸更為緊湊,這意味著對于給定的芯片尺寸,Qorvo SiC FET可提供更低的導通電阻(RDS(ON));也就是說,在相同的導通電阻條件下,Qorvo SiC FET所需的SiC裸片尺寸更小,這使得該器件可以采用TOLL和D2PAK等較小的封裝形式,進一步強化SiC器件小型化的優勢。
此外,Qorvo的SiC FET與SiC MOSFET相比,還具有更低的輸出電容,這使得其能夠在低負載電流下以更快的開關速度工作,因此電容充電延遲時間更短。由此帶來的好處是,減少了對電感器和電容器等較大體積無源元件的需求,使得終端設備能夠實現更小的體積、更輕的重量、更低的成本,并獲得更高的功率密度。

圖3:SiC MOSFET與Qorvo SiC FET的比較
(圖源:Qorvo)
總結一下,Qorvo SiC FET既具有SiC的性能優勢,又通過獨特的“Si MOSFET + SiC JFET”的垂直級聯架構,構成了一款更“高能”的器件。這樣的器件,對于功率應用的價值體現在:
• 可采用標準硅柵極驅動器,這使得從Si到SiC的技術過渡更加順暢,也為工程師提供了更大的設計靈活性。
• 相同芯片面積下,具有更低的漏-源導通電阻 RDS(ON),可進一步提升系統效率。
• 更低的電容允許更快的開關速度、更高的工作頻率,減小了對大體積無源元件的需求。
• 可提供更高電壓等級 (1,200V或更高),而與同級別硅基IGBT相比又具有更高的工作頻率。
豐富的SiC FET產品組合
UF3C系列是Qorvo高性能SiC FET中的代表產品,具有超低柵極電荷,非常適合開關感性負載和需要標準柵極驅動的應用。由于可以兼容標準柵極驅動器,因此UF3C系列SiC FET可真正實現對硅基IGBT、FET、MOSFET或超結器件的“絲滑平替”。
該系列SiC FET提供650V、1,200V和1,700V多種耐壓版本,以及D2PAK-3、D2PAK-7、D2PAK-7L、TO-247-3L、TO-247-4L和TO-220-3L等封裝選項,可廣泛應用于電動汽車充電、光伏逆變器、開關模式電源、功率因數校正模塊、電機驅動器和感應加熱等功率電子系統。

圖4:UF3C高性能SiC FET
(圖源:Qorvo)
值得一提的是,Qorvo不斷發展這種共源共柵結構SiC FET的產品組合,既包括采用平面工藝的第3代產品(如UF3C),還包括性能更為出色的基于溝槽工藝的第4代產品。同時,Qorvo還提供豐富的產品系列,以滿足不同應用場景所需:
UJ系列
開關速度較慢,非常適合替代現有的非開爾文封裝設計,如TO247-3L、D2PAK3L等。
UF系列
具有更快的開關速度,適用于高開關頻率、高效率和高功率密度應用。
UG系列
有兩個柵極引腳,分別用于SiC JFET和Si MOSFET。SiC JFET柵極引腳可實現非常寬的開關速度可控性。其目標應用是具有非常高的電流和相對較慢的dv/dt(<20V/ns)的場景,如電路保護等。
C/SC系列
即并排共源共柵或堆疊共源共柵——字母“C”表示共源共柵結構并排封裝了Si低壓MOSFET和SiC高壓JFET;字母“SC”表示共源共柵結構在SiC高壓JFET芯片的頂部連接了一個Si低壓MOSFET芯片,因此稱為堆疊芯片。
E1B模塊
采用行業標準模塊封裝,與許多供應商產品引腳兼容,適合于ZVS軟開關應用,如相移全橋、LLC等。
本文小結
在功率半導體領域,從Si向SiC技術過渡已經是大勢所趨,對此大家已經形成了共識。不過,如何讓這個過程更“絲滑”,以盡可能少的成本從SiC身上獲得盡可能大的收益——對于這個問題,不同的廠商則有自己不同的高招兒。
對此,Qorvo給出的解決方案非常獨特而巧妙,通過Si MOSFET + SiC JFET的共源共柵的架構,彌補了SiC MOSFET的性能短板,并與標準的硅基器件的柵極驅動器兼容,能夠有效加速SiC器件設計導入的進程。
從Si到SiC,該如何絲滑升級?你想要的答案就在這里——
Qorvo UF3C SiC FET更多詳情 |